综合测试一
课程名称：
材料现代分析方法
总分：
100
分
答题时长：
60
分钟
出卷人：
宋亚宇
一
、单项选择题：(共
13
题，
26
分)
1
、
将某一衍射斑点移到荧光屏中心调整物镜光栏使该衍射斑点成像，这是
A.
明场像
B.
暗场像
C.
中心暗场像
D.
弱束暗场像
2
、
对于简单点阵，原子的散射因子受以下什么因素影响
A.
H
B.
K
C.
L
D.
与HKL无关
3
、
对于底心点阵，原子的散射因子受以下什么因素影响
A.
与HK有关
B.
仅与H有关
C.
仅与K有关
D.
与HKL有关
4
、
最常用的X射线衍射方法是
A.
劳埃法
B.
粉末多晶法
C.
周转晶体法
D.
德拜法
5
、
用来进行晶体结构分析的X射线学分支是
A.
X射线投射学
B.
X射线衍射学
C.
X射线光谱学
D.
其他
6
、
在扫描电子显微镜中，下列二次电子像衬度最亮的区域是
A.
和电子束垂直的表面
B.
和电子束成30度的表面
C.
和电子束成45度的表面
D.
和电子束成60度的表面
7
、
扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是
A.
波谱议
B.
能谱仪
C.
能谱仪俄歇电子谱仪
D.
特征电子能谱损失谱
8
、
电子显微镜的信息载体是
A.
电子束
B.
可见光
C.
红外线
D.
紫外线
9
、
景深定义正确的是
A.
像平面固定，在保证像清晰的情况下，物平面沿着光轴可前后移动的最小距离
B.
像平面固定，在保证像清晰的情况下，物平面沿着光轴可前后移动的最大距离
C.
物平面固定，在保证像清晰的情况下，像平面沿着光轴可前后移动的最小距离
D.
物平面固定，在保证像清晰的情况下，像平面沿着光轴可前后移动的最大距离
10
、
透射电镜的两种主要功能
A.
表面形貌和晶体结构
B.
内部组织和晶体结构
C.
表面形貌和成分价键
D.
内部组织和成分价键
11
、
透射电镜的两种主要功能
A.
表面形貌和晶体结构
B.
内部结构和晶体结构
C.
表面形貌和成分价键
D.
内部组织和成分价键
12
、
表面形貌分析的手段包括
A.
X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）
B.
SEM和透射电镜（TEM）
C.
波谱议（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS）
D.
扫描隧道显微镜（STEM）和SEM
13
、
要测定聚合物的熔点，需要用
A.
红外光谱
B.
紫外可见光谱
C.
差热分析
D.
X射线衍射
二
、多项选择题：(共
13
题，
44
分)
1
、
X射线产生需要的条件是
A.
电子源
B.
靶材
C.
加速电压
D.
真空环境
2
、
X射线的性质
A.
波粒二相性
B.
不可见
C.
穿透性强
D.
杀伤作用
3
、
X射线与物质的相互作用可以产生
A.
散射
B.
入射
C.
透射
D.
吸收
4
、
电子显微镜的成像系统由什么组成
A.
物镜
B.
中间镜
C.
投影镜
D.
聚光镜
5
、
中间镜在成像系统中的作用是
A.
调节整个系统的放大倍数
B.
成像操作
C.
衍射操作
D.
投影操作
6
、
根据安装在电镜中的位置不同，光阑可分为
A.
聚光镜光阑
B.
透光镜光阑
C.
物镜光阑
D.
中间镜光阑
7
、
二次电子的特点
A.
对样品形貌敏感
B.
空间分辨率高
C.
收集效率高
D.
对成分敏感
8
、
透射电子显微镜的结构为
A.
光学成像系统
B.
真空系统
C.
电气系统
D.
扫描系统
9
、
透射电子显微镜的成像系统组成
A.
物镜
B.
中间镜
C.
投影镜
D.
电磁透镜
10
、
扫描电子显微镜常用的信号包括
A.
二次电子
B.
吸收电子
C.
背散射电子
D.
X射线
11
、
扫描电镜的特点包括
A.
分辨本领强
B.
有效放大倍率高
C.
景深场
D.
制样简单
E.
电子损伤小
F.
实现综合分析
12
、
根据测量物质的物理性质的不同，热分析方法分为
A.
热重分析法
B.
差热分析法
C.
差示扫描量热法
D.
热机械分析法
13
、
X射线的散射根据散射前后能量变化与否，分为
A.
相干散射
B.
吸收散射
C.
非相干散射
D.
光电效应
三
、判断题：(共
15
题，
30
分)
1
、
X射线的强度是指单位时间内通过单位面积的X光子的能量总和。
√
×
2
、
晶体的X射线包括两个衍射条件：衍射方向和衍射强度。
√
×
3
、
X射线产生过程中，在加速电压施加后，阳极产生电子，电子高速移动轰击阴极，产生X射线。
√
×
4
、
X射线具有波粒二象性，肉眼看不见，在真空环境中直线传播，对人体会产生辐射，因此操作人员在操作X射线设备时需做好防护。
√
×
5
、
特征X射线的产生与电压有关，不受靶材物质变化影响。
√
×
6
、
X射线发生相干散射的干涉条件包括散射线与入射线的频率和波长一致，位相固定，方向可以不同。
√
×
7
、
布拉格方程是X射线在晶体中产生衍射的充分必要条件，不用考虑系统消光。
√
×
8
、
对于电子的非弹性散射，电子不会改变方向，能量也不发生变化，只会转变为热，光及X射线和二次电子发射。
√
×
9
、
电子衍射中，二次电子对样品表面形貌不敏感，空间分辨率低，信号收集效率低。
√
×
10
、
在透射分析中，像差是由于实际分辨率低于理论分辨率而引起，其中，由于波长的稳定性会引起球差和像散出现，由于几何原因会引起色差出现。
√
×
11
、
透射电镜的成像过程包括两个过程：由物变换到衍射的过程，由衍射重新变换到物的过程。
√
×
12
、
扫描电镜（SEM）的结构由电子光学系统，信号收集和显示系统，真空系统和电源系统构成。
√
×
13
、
扫描电镜的相衬度仅仅包括二次电子成像衬度。
√
×
14
、
在热分析中，热重法测试的是温度程序控制下，物质质量随温度变化的关系。
√
×
15
、
在热分析中，DTA的参比物可以是在所测温度范围内发生热效应的物质，不影响测试精度。
√
×