综合测试二

课程名称:材料现代分析方法 总分:100 答题时长:60分钟 出卷人:宋亚宇

、单项选择题:(共13题,26分)
1 可以消除的像差是
球差
像散
色差
A+B
2 最常用的X射线衍射方法是
劳埃法
粉末多晶法
周转晶体法
德拜法
3 用来进行晶体结构分析的X射线学分支是
X射线投射学
X射线衍射学
X射线光谱学
其他
4 测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是
保持同步
2:1
1:2
1:0
5 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选
Cu
Fe
Ni
Mo
6  X射线衍射仪的核心部件是
X射线发生器
测角仪
辐射探测器
记录单元
7 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是
背散射电子
俄歇电子
特征X射线
吸收电子
8 要分析陶瓷原料的矿物组成,优先选择
红外光谱
X射线荧光光谱
X射线衍射
原子吸收光谱
9 焦长定义正确的是
像平面固定,在保证像清晰的情况下,平面沿着光轴可前后移动的最小距离
像平面固定,在保证像清晰的情况下,物平面沿着光轴可前后移动的最大距离
物平面固定,在保证像清晰的情况下,像平面沿着光轴可前后移动的最小距离
物平面固定,在保证像清晰的情况下,像平面沿着光轴可前后移动的最大距离
10 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是
背散射电子
二次电子
吸收电子
透射电子
11 当电子把所有能量转化为X射线时,该X射线波长称为
短波线
激发线
吸收线
特征X射线
12 电子衍射成像时是将
中间镜的物平面与物镜的背焦面重合
中间镜的物平面与物镜的像平面重合
关闭中间镜
关闭物镜
13 单晶体电子衍射花样是
规则的平行四边形斑点
同心圆环
晕环
不规则斑点
、多项选择题:(共13题,44分)
1 对于体心点阵的消光规律来说,下面描述正确的是
H+K+L为奇数时,结构因子为0
H+K+L为偶数时,结构因子为4f2
H+K为奇数时,结构因子为0
H+K+L为偶数时,结构因子为16f2
2 对于面心点阵的消光规律,下面描述正确的是
HKL全奇或偶时,结构因子为16f2
HKL奇偶混合时,结构因子为4f2
HKL奇偶混合时,结构因子为0
HKL奇偶混合时,结构因子为16f2
3 X射线物相分析
定性分析
微观组织
定量分析
成分分析
4 影响X衍射仪实验结果的参数主要包括
狭缝宽度
扫描速度
时间常数
测试总时间
5 二次电子衬度成像可以进行什么应用
表面形态观察
断口形貌
磨面观察
衍射分析
6 背散射电子的特点
产额对样品的原子序数敏感
产额对样品形貌敏感
空间分辨率低
信号收集效率低
7 电磁透镜的像差包括
球差
像散
色差
明暗度
8 影响透射电镜分辨率的因素主要有
衍射效应
电镜的球差
电镜的像散
电镜的色差
9 电子探针可以进行什么分析
定点分析
线分析
图像分析
面分析
10 影响差热曲线的因素有
升温速率
粒度和颗粒形状
装填密度
装填密度压力和气氛
11 能谱仪与波谱议相比具有哪些特点
探测效率高
灵敏度高
分析效率高
能谱仪结构简单,使用方便,稳定性好
12 能谱仪的缺点
分辨率低
Si(Li)窗口影响对超轻元素的检测
维护成本高
测试价格昂贵
13 典型的DTA曲线包括哪些部分
基线
缝宽
峰高
外延始点
峰面积
、判断题:(共15题,30分)
1 布拉格方程是X射线在晶体中产生衍射的充分必要条件,不用考虑系统消光。
2 X射线在晶体中的反射和可见光的镜面反射是一样的,任意入射角均可以产生反射。
3 晶体结构分为七大晶系:三斜,单斜,正交,三方,四方,六方,立方。
4 倒易点阵中的一倒易点对应着正空间点阵中一族晶面间距相等的点格平面。
5 倒易矢量的方向平行于正点阵中的晶面。
6  晶体的显微图像是晶体倒易点阵的映象,晶体的衍射图像是真实晶体结构在坐标空间的映象。
7  倒易点阵是晶体点阵的Fourier变化,晶体点阵是倒易点阵的Fourier逆变换。
8  在单胞衍射中,由于结构因子为0而使衍射线消失的现象称为系统消光,包括点阵消光和结构消光。
9 简单点阵由于结构因子不受HKL的影响,对于所有晶面都会产生衍射花样。
10 物相是指各种元素形成的具有固定结构的化合物,包括化合物,单质元素和固溶体。
11  X射线物相分析原理是任一结晶物质都具有特定的晶体结构,具有特有的衍射花样,即物相与衍射花样是一一对应的。
12  电子衍射中,背散射电子对样品表面敏感,空间分辨率高,信号收集效率高。
13 电子衍射中,其衍射几何与X射线衍射完全相同,都遵循布拉格方程所规定的衍射条件和几何关系。衍射方向可以由厄瓦尔德球作图求出。
14 透射成像是电子显微成像,在物镜像平面上形成,显微图像是电子衍射花样,在物镜后焦面上形成。
15 电子探针是利用分析特征X射线的波长和能量分析元素的种类,分析特征X射线的强度可分析元素的含量。