第四章练习
课程名称：
材料现代分析方法
总分：
14
分
答题时长：
30
分钟
出卷人：
宋亚宇
一
、单项选择题：(共
1
题，
2
分)
1
、
表面形貌分析的手段包括
A.
X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）
B.
SEM和透射电镜（TEM）
C.
波谱议（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS）
D.
扫描隧道显微镜（STEM）和SEM
二
、多项选择题：(共
2
题，
6
分)
1
、
扫描电镜的特点包括
A.
分辨本领强
B.
有效放大倍率高
C.
景深场
D.
制样简单
E.
电子损伤小
F.
实现综合分析
2
、
电子探针可以进行什么分析
A.
定点分析
B.
线分析
C.
图像分析
D.
面分析
三
、判断题：(共
3
题，
6
分)
1
、
扫描电镜（SEM）的结构由电子光学系统，信号收集和显示系统，真空系统和电源系统构成。
√
×
2
、
扫描电镜的相衬度仅仅包括二次电子成像衬度。
√
×
3
、
电子探针是利用分析特征X射线的波长和能量分析元素的种类，分析特征X射线的强度可分析元素的含量。
√
×